400G/800G ビットエラーレートテスター(BERT) – BA-4000
担当者
アプリケーション
800GbE/400GbE等のPAM4変調方式を用いた高速伝送規格の対応デバイス（光トランシーバ・OSA・FPGA等）の試験・評価に最適な、ビットエラーレートテスターです。
特徴
〇 800G/400G/200G/100Gの伝送規格向けテストをフルサポート (～56GBd, NRZ/PAM4, ～8チャネル)
〇 バーストエラー分析に必須のFECシミュレーション機能
〇 生成信号の高品質なアイパターン
〇 RFインターフェースに着脱容易なO-SMPMコネクタ採用
〇 PRBS 7/9/11/13/15/23/31/13Q/31Q, SSPRQをサポート
用途
・光トランシーバ、OSA(Optical Sub Assembly)の試験、評価
・FPGA、MCB(Module Compliance Board)、HCB(Host Compliance Board)の試験、評価
FECシミュレーション機能
400GbE/800GbE等のPAM4変調を適用した高速伝送規格では、伝送品質を確保するためにFEC(前方誤り訂正)を使用することが定められており、伝送品質評価においても、FECによるエラー訂正を含めた評価が必要になります。BA-4000のFECシミュレーション機能は、バーストエラーに対する様々な分析機能を提供します。
〇 PRBSエラーチェック及び訂正
〇 Pre-FEC及びpost-FEC BER
〇 KP4/KR4及び低遅延FECプロトコル
〇 FEC lane striping 昨日
〇 FECシンボルエラー分布表示 : codewords vs. シンボルエラー
〇 FECマージン自動計算
O-SMPMコネクタ
測定系構築時の着脱操作が容易に可能、各種高周波コネクタ(K, 2.4mm, SMPM, 1.85mm)に対応したケーブルもサポートしております。
高品質なアイパターン
53GBd PAM4の生成信号においてアイ幅 > 6psと、高品質なアイパターンの生成が可能です。
使いやすいGUI
ユーザーフレンドリーなGUI設計です。詳しくは参考動画①の1分22秒以降もご参照ください。
参考動画①：特徴のご紹介
参考動画②：FECシミュレーション機能のご紹介
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